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气敏传感器分类(9)

时间:2011-11-01 17:33来源:传感器门户网 作者:传感器编辑 点击:
P 型半导体硅芯片上,采用热氧化工艺生长一层厚度为 50 ~ 100nm 左右的 SiO 2 层,然后再在其上蒸发一层钯金属薄膜,作为栅电极。 SiO 2 层电容 Cax 是固定
P型半导体硅芯片上,采用热氧化工艺生长一层厚度为50100nm左右的SiO2层,然后再在其上蒸发一层钯金属薄膜,作为栅电极。SiO2层电容Cax是固定不变的,Si-SiO2界面电容Cx是外加电压的函数。所以总电容C是栅极偏压的函数。其函数关系称为该MOS管的C-U(电容-电压)特性。由于钯在吸附H2以后,会使钯的功函数降低。这将引起MOS管的C-U特性向负偏压方向平移,如图12-9所示。由此可测定H2的浓度。

3Pd-MOSFET气敏器件

这种器件是利用MOS场效应晶体管(MOSFET)的阈值电压的变化做成的半导体气敏器件。Pd-MOSFET (责任编辑:传感器)

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